schließen

Vermessung

Vermessung asphärischer OberflächenGenaueste Messergebnisse vom Spezialisten

Neueste taktile und interferometrische Messinstrumente ermöglichen eine flexible Produktion asphärischer Optiken auf technologisch höchstem Niveau. Ein selbst entwickeltes, integriertes Datenbanksystem sorgt für die punktgenaue und jederzeit abrufbare Auswertung sowie Dokumentation der Messergebnisse aller Fertigungsschritte. Für präzise Resultate kommt ein breites Spektrum an modernsten Messinstrumenten zum Einsatz.

Unser erfahrenes Team freut sich auf Ihre Anfrage!

Profitieren Sie von der Qualität unserer Messinstrumente:

MarOpto TWI
  • Schnelles Prüfinterferometer im Werkstatteinsatz für Passe und Radienmessung an Asphären, RMS Reproduzierbarkeit von < 1 nm
  • Genauestes Erfassen von mittel- und hochfrequenten Fehlern, sowie Koma
LuphoScan 260 und 420
  • Glasfaserbasierte Multi-Wellenlängen-Interferometrie (MWLI®)
  • Messbereich: 420 mm (Durchmesser) x 100 mm (Höhe)
  • Longitudinale Auflösung: 0,1 nm
Zygo Verifire AsphereTM
  • Laserbasierte, dreidimensionale, mechanische Phasenverschiebungs-Interferometrie (6″-Fizeau-Interferometer) in Kombination mit heterodyn interferometrischer Abstandsbestimmung
  • Messverfahren: Bestimmung der Oberflächenform und Krümmungsradien an asphärischen, sphärischen oder planen Werkstücken
  • Asphärische Leistungsmessung: bis 60 nm (λ/10)
MarSurf LD 120 MarWin
  • Zweidimensionale Messung optisch rauer Oberflächen
  • Exakte Wiedergabe von Asphären, basierend auf einer Auflösung von 2 nm (0,08 μin) und Formabweichungen von weniger als 100 nm (4 μin)
MarSurf LD 260 Aspheric
  • Hochgenaue 2D/3D-Vermessung optischer Komponenten
  • Direkter Messbereich bis 260 mm
  • Max. Durchmesser bis 400 mm
  • Auflösung: 0,8 nm
MarForm MFU 200 Aspheric 3D
  • Hochpräzise 2D/3D- Vermessung; optisch und taktil
  • Messbereich: bis zu 260 mm Durchmesser
  • Vertikale Auflösung von 1 nm und Formabweichungen von < 100 nm (< +/- 50 nm)
Zygo NewViewTM 7100 und MarSurf WM 100
  • Messung von Rauheiten asphärischer Oberflächen von bis zu 0,5 nm