Optische Charakterisierung
Strahlenparameterbestimmung in Echtzeit
Exakte Vermessung und Zertifizierung - Charakterisierung bei asphericon
Basierend auf einer hochaufgelösten Wellenfrontmessung kann nach der Fertigstellung jeder Optik/jedes optischen Systems eine zusätzliche optische Charakterisierung durchgeführt werden. Für genaueste Ergebnisse und hohe Reproduzierbarkeit der Messungen verfügen wir über eine entsprechende Messtechnik und stellen auch Schnittstellen zum optischen Design her. Die hohe Qualität unserer Produkte belegen wir abschließend mit einem Zertifikat.
Eine optische Charakterisierung von asphericon umfasst:
- Vermessung der Wellenfront (Wellenlängenbereich 400 – 1064 nm, andere Wellenlängen auf Anfrage)
- Vermessung der MTF, PSF und Strehl-Zahl
- Abbildung der Wellenfrontmessung
Phasics™ SID4 – HR
Mit dem Phasics™ SID4 – HR verfügt asphericon über eine der modernsten Technologien zur Messung von Wellenfrontaberrationen.
Die Interferogramme werden unter Verwendung eines modifizierten Hartmann-Tests und einem lateralen Shearing-Interferometrie-Formalismus aufgenommen und anschließend analysiert.
Dies führt zu einer erhöhten Auflösung (mindestens um den Faktor 4) im Vergleich zu Shack-Hartmann Wellenfrontsensoren.
- Hohe Auflösung der Interferogramme bis zu 400 x 300 Messpunkte (HR) für genaue Messung der Aberrationen und hohe Reproduzierbarkeit der Messung
- Einzigartige Fähigkeit zur direkten Messung hoch divergenter Strahlen ohne zusätzliche Vorsatzoptik (bis zu NA = 0,72)
- Für alle Wellenlängen von 400 nm – 1064 nm ohne zusätzliche Kalibrierung des gesamten Erfassungsbereiches der Kamera nutzbar
- In nur einer Messung erfolgt die vollständige Charakterisierung der optischen Komponente (Aberrationen, PSF, MTF, effektive Brennweite, etc.)
Ihre Anfrage
