Přesné měření a certifikace – charakterizace u asphericon

Na základě měření vlnoploch s vysokým rozlišením po dokončení každé optiky/každého optického systému jsou prováděny přídavné optické charakterizace. Pro nejpřesnější výsledky a vysokou reprodukovatelnost měření disponujeme odpovídající měřicí technikou a vytváříme také rozhraní s optickým designem. Vysokou kvalitu našich produktů na závěr dokládáme certifikátem.

Charakterizace u asphericon

Optická charakterizace ve společnosti asphericon zahrnuje:

  • měření vlnoploch (rozsah vlnových délek 400 – 1064 nm, jiné vlnové délky na vyžádání)
  • měření MTF, PSF a Strehlova kritéria
  • zobrazení měření vlnoploch

Zadat poptávku nyní

Phasics™ SID4 – HR

S PhasicsTM SID4 – HR disponuje asphericon jednou z nejmodernějších technologií k měření aberací vlnoploch.

Za použití modifikovaného Hartmannova testu a laterálního Shearing interferometrického formalismu jsou zaznamenávány a následně analyzovány interferogramy.

To vede ke zvýšenému rozlišení (minimálně o čtyřnásobek) v porovnání se sensory vlnoplochy Shack-Hartmann.

  • Vysoké rozlišení interferogramů až 400 x 300 měřicích bodů (HR) pro přesné měření aberací a vysokou reprodukovatelnost měření
  • Jedinečná schopnost přímého měření vysoce divergentními svazky bez přídavné předřazené optiky (až NA = 0,72)
  • Pro vlnové délky 400 nm – 1064 nm využitelné bez přídavné kalibrace celého dosahu kamery
  • Plná charakterizace optických komponentů (aberace, PSF, MTF, efektivní ohnisková vzdálenost, atd.) probíhá pouze v jediném měření

CHCETE SE O OPTICKÉ CHARAKTERIZACI U ASPHERICON DOZVĚDĚT VÍCE?

Poptat charakterizaci teď!

kontakt

Kontakt-Button-Startseite-Formular

Kontaktformular Startseite Button