
Optická charakterizace
Přesné měření a certifikace – charakterizace u asphericon
Na základě měření vlnoploch s vysokým rozlišením po dokončení každé optiky/každého optického systému jsou prováděny přídavné optické charakterizace. Pro nejpřesnější výsledky a vysokou reprodukovatelnost měření disponujeme odpovídající měřicí technikou a vytváříme také rozhraní s optickým designem. Vysokou kvalitu našich produktů na závěr dokládáme certifikátem.
Charakterizace u asphericon
Optická charakterizace ve společnosti asphericon zahrnuje:
- měření vlnoploch (rozsah vlnových délek 400 – 1064 nm, jiné vlnové délky na vyžádání)
- měření MTF, PSF a Strehlova kritéria
- zobrazení měření vlnoploch
Phasics™ SID4 – HR
S PhasicsTM SID4 – HR disponuje asphericon jednou z nejmodernějších technologií k měření aberací vlnoploch.
Za použití modifikovaného Hartmannova testu a laterálního Shearing interferometrického formalismu jsou zaznamenávány a následně analyzovány interferogramy.
To vede ke zvýšenému rozlišení (minimálně o čtyřnásobek) v porovnání se sensory vlnoplochy Shack-Hartmann.
- Vysoké rozlišení interferogramů až 400 x 300 měřicích bodů (HR) pro přesné měření aberací a vysokou reprodukovatelnost měření
- Jedinečná schopnost přímého měření vysoce divergentními svazky bez přídavné předřazené optiky (až NA = 0,72)
- Pro vlnové délky 400 nm – 1064 nm využitelné bez přídavné kalibrace celého dosahu kamery
- Plná charakterizace optických komponentů (aberace, PSF, MTF, efektivní ohnisková vzdálenost, atd.) probíhá pouze v jediném měření
CHCETE SE O OPTICKÉ CHARAKTERIZACI U ASPHERICON DOZVĚDĚT VÍCE?




asphericon GmbH
Stockholmer Str. 9
07747 Jena
phone +49 (0) 3641 3100 500
fax +49 (0) 3641 3100 501
sales[at]asphericon.com