Optická charakterizace
Stanovení parametrů svazku v reálném čase.
Přesné měření a certifikace
Na základě měření vlnoplochy s vysokým rozlišením lze po výrobě každé čočky/optického systému provést další optickou charakterizaci. Pro co nejpřesnější výsledky a vysokou reprodukovatelnost měření máme k dispozici odpovídající měřicí technologie a vytváříme také rozhraní pro optický design. Vysoká kvalita našich výrobků je zaručena certifikátem.
Optická charakterizace zahrnuje:
- Měření vlnoplochy (rozsah vlnových délek 400 - 1064 nm, jiné vlnové délky na vyžádání)
- Měření MTF, PSF a Strehlova poměru
- Ilustrace měření vlnoplochy
Phasics™ SID4 – HR
S přístrojem Phasics™ SID4 - HR využívá společnost asphericon jednu z nejmodernějších technologií pro měření aberace vlnoplochy.
Pro analýzu jsou interferogramy zaznamenány pomocí modifikovaného Hartmannova testu a bočního střižného interferometrického formalismu.
To vede ke zvýšení rozlišení (nejméně čtyřnásobně) ve srovnání se Shack-Hartmannovými vlnoplochami.
- Vysoké rozlišení fázové mapy až 400 x 300 měřicích bodů (HR) pro přesné měření aberací a vysokou reprodukovatelnost měření.
- Jedinečná možnost přímého měření rozbíhajících se paprsků bez přídavné zaostřovací čočky (až do NA = 0,72).
- Možnost měření více vlnových délek bez dodatečné kalibrace celkového detekčního rozsahu kamery (400 nm - 1064 nm)
- Pomocí Phasics™ SID4 - HR lze provést kompletní charakterizaci optických komponent (aberace, PSF, MTF, efektivní ohnisková vzdálenost atd.) během jediného měření.
Váš požadavek
Obraťte se na náš tým
Vždy nejnovější zprávy z asphericonu