光学表征
实时确定光束参数。
精确测量和认证
基于高分辨率波前测量，可以在生产每个透镜/光学系统之后进行额外的光学表征。为了获得最精确的结果和测量的高再现性，我们拥有适当的测量技术，还可以创建与光学设计的接口。我们的高质量产品都是有证书保证的。
艾斯飞睿的光学表征包括：
- 波前测量（波长范围400–1064 nm，根据要求提供不同波长）
- MTF、PSF和Strehl比率的测量
- 波前测量示意图
Phasics™ SID4 – HR
使用Phasics™SID4–HR，艾斯飞睿利用最现代的技术之一来测量波前像差。
为了进行分析，通过使用改进的哈特曼检验和横向剪切干涉测量形式来记录干涉图。
与Shack–Hartmann波前传感器相比，这导致分辨率提高（至少提高了4倍）。
- 相位图的高分辨率高达400 x 300个测量点（HR），用于像差的精确测量和测量的高再现性
- 无需额外聚焦透镜即可直接测量发散光束的独特能力（NA高达0.72）
- 多波长功能，无需对相机的整体检测范围进行额外校准（400 nm–1064 nm）
- 使用Phasics™SID4–HR，仅需一次测量即可实现光学组件（像差、PSF、MTF、有效焦距等）的完整表征
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