专家给出的最准确测量结果

最新触觉和干涉测量仪器允许以最高的技术水平灵活制造非球面光学器件。一个专门开发和集成的数据库系统能够记录所有制造步骤的测量结果,进行精密评价,并可随时访问。使用各种测量仪器来获得准确的测量结果。我们经验丰富的团队期待您的项目!

受益于我们测量仪器的质量:

  • • 生产环境中用于非球面镜面形和半径测量的快速干涉仪,RMS再现性<1nm
  • 中高频误差和彗差的最准确记录
  • 基于光纤的多波长干涉测量法(MWLI®)
  • 测量范围:420mm(直径)乘100mm(高度)
  • 纵向分辨率:0.1nm
  • 结合外差位移干涉测量法的基于激光的三维机械相移干涉测量法(6英寸Fizeau干涉仪)
  • 能力:测量非球面、球面和平面光学器件的面形偏差和曲率半径
  • 非球面测量性能可达60nm(λ/10)
  • 光学粗糙表面的二维测量
  • 非球面镜的精确复制,基于2nm(0.08μm)的分辨率和小于100nm(4μm)的形状偏差
  • 光学元件的高准确度2D/3D测量
  • 直接测量范围可达260mm
  • 最大直径可达400mm
  • 分辨率:0.8nm
  • 高精密度2D/3D测量
  • 直径可达260mm的宽测量范围
  • 1nm的垂直分辨率和<100nm的形状偏差(<+/-50nm)
  • 微米至亚微米范围内的对中准确度
  • 0.5nm以下非球面的粗糙度测量

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