
实时确定光束参数。
光学表征
精密测量和认证
基于高分辨率波前测量,可以在生产每个透镜/光学系统后完成的额外光学表征。为了获得最精密的结果和高重现性的测量结果,我们拥有合适的测量技术,并创建了光学设计接口。有证书来保证我们产品的高质量。
asphericon的表征
Phasics™ SID4 – HR
借助Phasics™ SID4–HR,asphericon利用最现代的技术之一来测量波前像差。
为了进行分析,使用修正Hartmann测试和横向剪切干涉测量法记录干涉图。
T与Shack–Hartmann波前传感器相比,这导致了分辨率提高(至少提高4倍)。
- 高达400 x 300个测量点(HR)的高分辨率相位图,用于像差的精密测量和测量的高再现性
- 无需额外聚焦透镜(最大NA=0.72)即可直接测量发散光束的独特能力
- 多波长能力,无需额外校准相机的整体探测范围(400nm–1064nm)
- 借助Phasics™ SID4–HR,光学元件的完整表征(像差、PSF、MTF、有效焦距等)只需一次测量即可实现
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