精密测量和认证

借助Phasics™ SID4–HR，asphericon利用最现代的技术之一来测量波前像差。

为了进行分析，使用修正Hartmann测试和横向剪切干涉测量法记录干涉图。

T与Shack–Hartmann波前传感器相比，这导致了分辨率提高（至少提高4倍）。

• 高达400 x 300个测量点（HR）的高分辨率相位图，用于像差的精密测量和测量的高再现性
• 无需额外聚焦透镜（最大NA=0.72）即可直接测量发散光束的独特能力
• 多波长能力，无需额外校准相机的整体探测范围（400nm–1064nm）
• 借助Phasics™ SID4–HR，光学元件的完整表征（像差、PSF、MTF、有效焦距等）只需一次测量即可实现