精密测量和认证

基于高分辨率波前测量,可以在生产每个透镜/光学系统后完成的额外光学表征。为了获得最精密的结果和高重现性的测量结果,我们拥有合适的测量技术,并创建了光学设计接口。有证书来保证我们产品的高质量。

asphericon的表征

光学表征包括:

  • 波前测量(波长范围为400–1064nm,根据要求提供不同的波长)
  • 测量MTF、PSF和Strehl比率
  • 波前测量图解

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Phasics™ SID4 – HR

借助Phasics™ SID4–HR,asphericon利用最现代的技术之一来测量波前像差。

为了进行分析,使用修正Hartmann测试和横向剪切干涉测量法记录干涉图。

T与Shack–Hartmann波前传感器相比,这导致了分辨率提高(至少提高4倍)。

  • 高达400 x 300个测量点(HR)的高分辨率相位图,用于像差的精密测量和测量的高再现性
  • 无需额外聚焦透镜(最大NA=0.72)即可直接测量发散光束的独特能力
  • 多波长能力,无需额外校准相机的整体探测范围(400nm–1064nm)
  • 借助Phasics™ SID4–HR,光学元件的完整表征(像差、PSF、MTF、有效焦距等)只需一次测量即可实现

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